Elaborations et carctérisations des couches minces

dc.contributor.authorMedjaldi, Malika
dc.contributor.authorZaabat, Mourad
dc.date.accessioned2018-11-28T10:02:16Z
dc.date.available2018-11-28T10:02:16Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractLe présent travail consiste en l'élaboration et la caractérisation des couches minces de ZnO non dopées et dopées par différentes concentrations d'indium (In) en poids afin d'améliorer les propriétés structurales et optiques du ZnO. Les échantillons ont été élaborées par la méthode Sol-Gel, puis déposées sur des substrats en verre par la technique Dip-Coating. La caractérisation structurale a montré la formation du ZnO de structure hexagonale (wurtzite) avec une orientation préférentielle selon le plan (002). Les images MEB et AFM ont révélé le caractère nanométrique de nos couches. La diffusion Raman a confirmé les résultats de la DRX à savoir la formation du ZnO de structure hexagonale (wurtzite). Les spectres EDX ont prouvé l'existence, dans nos couches, des éléments (zinc, oxygène) et de l'indium pour les pourcentages de 5 et 10%. L'incorporation de l'indium a été aussi prouvée par la Spectroscopie XPS. La spectroscopie UV-visible a montré que nos couches ont une transparence, dans le visible, qui varie entre 75 et 80%. Et que le gap change avec l'augmentation du dopage. La photoluminescence des films a montré des émissions ultraviolettes (UV) et visibles liées aux défauts.ar
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/6586
dc.language.isofrar
dc.publisherUniversité Oum El Bouaghiar
dc.subjectCouche mincear
dc.subjectOxyde de zincar
dc.subjectDip-Coatingar
dc.subjectOxyde d'indiumar
dc.titleElaborations et carctérisations des couches mincesar
dc.typeOtherar
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