Etude physique et modélisation du transistor à effet de champ à l’échelle nanométrique

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Date
2020
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Publisher
Université De Larbi Ben M’hidi Oum EL Bouaghi
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Keywords
Mosfet, Mosfets à grilles multiples, Diélectriques élévés k (High k), Modélisation de dispositifs à l'échelle nanométrique
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