Etude des couches minces Zn(1-x)MgxO déposées par sol-gel

dc.contributor.authorGueroui, Sabrine
dc.contributor.authorMaameri, Bouchra
dc.contributor.authorMahdjoub, Abdelhakim
dc.date.accessioned2018-11-26T11:07:35Z
dc.date.available2018-11-26T11:07:35Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractDes couches minces Zn(1-x)MgxO ont été déposées par la méthode sol-gel. Le nombre de trempes détermine l'épaisseur du film déposé. Le contrôle de la concentration de Mg dans la solution permet de moduler le gap des couches déposées. Des morphologies variables ont été observées en surface par microscopie optique. La taille des grains ainsi que la rugosité de surface augmente avec la concentration de Mg dans la solution. Après recuit les propriétés des couches déposées ont été dégradées. Les paramètres du recuit doivent être réadaptés. La faible conductivité de type N s'inverse pour les fortes concentrations de Mg. La mobilité augmente avec la concentration de Mg en accord avec la meilleure cristallinité observée par AFM.ar
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/6529
dc.language.isofrar
dc.publisherUniversité Oum El Bouaghiar
dc.subjectCouche mince Zn(1-x)MgxOar
dc.subjectConcentration Mgar
dc.subjectProcédé sol-gelar
dc.titleEtude des couches minces Zn(1-x)MgxO déposées par sol-gelar
dc.typeOtherar
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