Browsing by Author "Mahdjoub, Abdelhakim"

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    Caractérisation des oxydes d'InP par XPS ellipsométrie spectroscopique
    (université Oum El Bouaghi, 2003) Mohammed Tayeb Oucif, Khaled; Mahdjoub, Abdelhakim
    L’étude des propriétés physico-chimiques de la surface du phosphure d’indium (InP) l’un des semi-conducteurs composés III-V les plus intéressants, est indispensable pour la fabrication des composants électroniques. Pour cette étude nous avons utilisé deux techniques spectrales très utilisées dans la caractérisation physico-chimique de l’état de surface : La spectroscopie XPS (X ray Photoelectron Spectroscopy) appelée aussi ESCA ( Electron Spectroscopy for Chemical Analysis ) et l’ellipsométrie spectroscopique. L’utilisation de l’ellipsométrie nécessite la mise au point de modèles théoriques et de programmes de calcul pour l’exploitation des spectres mesurés. La corrélation entre les deux techniques nous permet une détermination quantitative et qualitative de la nature très complexe de l’oxyde formé par voie électrochimique sur la surface du phosphure d’indium (InP). Cette étude permettra une bonne compréhension du comportement des composants électroniques à base de phosphure d’indium.
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    High Transparency Of Zno
    (Oum-El-Bouaghi University, 2018) Mahdjoub, Abdelhakim; Benzitouni, Sara; Zaabat, Mourad
    Undoped and heavily indium doped ZnO were deposited by dip-coating sol-gel method on glass substrates. When undoped ZnO was deposited the maximum value of transmittance decreases from 91% for bare substrate to less than 86%. However for ZnO:In coated substrate an unexpected high transmittance of 93.5% was obtained, exceeding that of bare glass substrate. To understand this particular behavior a theoretical model based on the propagation of electromagnetic waves in thin films was adapted to the studied samples and the measured transmittance spectra were perfectly fitted. The optical analysis of the two types of samples showed that the deposited films are dense inside the film while their refractive index decreases for the surface layers. Besides, it was noted that even if the preparation conditions are strictly identical, the heavily doped ZnO films is thicker and less dense then that of undoped ZnO. These results agree with AFM and SEM observations. The particular optical behavior described in this paper could be very beneficial for optical, optoelectronic and solar applications.