Browsing by Author "Mahdjoub, Abdelhakim"
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Item Caractérisation des couches minces d'oxymitrures de silicium par ellipsométrie spectroscopique(Université Oum El Bouaghi, 2012) Benzitouni, Sara; Mahdjoub, AbdelhakimCe travail s'inscrit dans le cadre de l'étude de couches minces d'oxynitrures de silicium élaboré par la technique de dépôt chimique en phase vapeur à basse pression LPCVD. Les films déposés sont caractérisés optiquement par ellipsométrie spectroscopique, l'accès à leurs informations n'est pas direct mais passe par une analyse mathématique traduite en programme permettant de modéliser les systèmes optiques des films. La modélisation sera basée sur la théorie matricielle des milieux stratifiés en utilisant l'approximation des milieux effectifs de Bruggeman, et en considérant le matériau comme un mélange hétérogène binaire de silice, et de nitrure de silicium. L'ajustement entre les spectres expérimentaux et théoriques va nous permettre de déduire l'épaisseur et les indices optiques des films SiOxNy déposés. Les différents résultats obtenus par l'analyse numérique seront interprétés. La caractérisation par ellipsométrie montre que l'indice de réfraction de SiOxNy augmente lorsque la fraction volumique de SiO2 diminue. L'étude montre aussi que l'erreur diminue si nos films sont modélisés en plusieurs couches, ce qui traduit qu'ils sont inhomogènes en profondeur.Item Caractérisation des oxydes d'InP par XPS ellipsométrie spectroscopique(université Oum El Bouaghi, 2003) Mohammed Tayeb Oucif, Khaled; Mahdjoub, AbdelhakimL’étude des propriétés physico-chimiques de la surface du phosphure d’indium (InP) l’un des semi-conducteurs composés III-V les plus intéressants, est indispensable pour la fabrication des composants électroniques. Pour cette étude nous avons utilisé deux techniques spectrales très utilisées dans la caractérisation physico-chimique de l’état de surface : La spectroscopie XPS (X ray Photoelectron Spectroscopy) appelée aussi ESCA ( Electron Spectroscopy for Chemical Analysis ) et l’ellipsométrie spectroscopique. L’utilisation de l’ellipsométrie nécessite la mise au point de modèles théoriques et de programmes de calcul pour l’exploitation des spectres mesurés. La corrélation entre les deux techniques nous permet une détermination quantitative et qualitative de la nature très complexe de l’oxyde formé par voie électrochimique sur la surface du phosphure d’indium (InP). Cette étude permettra une bonne compréhension du comportement des composants électroniques à base de phosphure d’indium.Item Etude des couches minces Zn(1-x)MgxO déposées par sol-gel(Université Oum El Bouaghi, 2015) Gueroui, Sabrine; Maameri, Bouchra; Mahdjoub, AbdelhakimDes couches minces Zn(1-x)MgxO ont été déposées par la méthode sol-gel. Le nombre de trempes détermine l'épaisseur du film déposé. Le contrôle de la concentration de Mg dans la solution permet de moduler le gap des couches déposées. Des morphologies variables ont été observées en surface par microscopie optique. La taille des grains ainsi que la rugosité de surface augmente avec la concentration de Mg dans la solution. Après recuit les propriétés des couches déposées ont été dégradées. Les paramètres du recuit doivent être réadaptés. La faible conductivité de type N s'inverse pour les fortes concentrations de Mg. La mobilité augmente avec la concentration de Mg en accord avec la meilleure cristallinité observée par AFM.Item Etude des revêtements antireflet pour des cellules solaires à base de silicium(Université Oum El Bouaghi, 2012) Zerafa, Khadidja; Mahdjoub, AbdelhakimDans la fabrication des cellules photovoltaïques la majorité des matériaux utilisés ont des indices de réfraction élevés, donc un facteur de réflexion très élevé, introduisant des pertes du rendement d'une cellule photovoltaïque par la réflexion. Pour diminuer ces pertes, il faut recouvrir ces cellules par des revêtements antireflets (RAR) réalisés par différents méthodes. Ce travail a permis la réalisation de programmes de simulation permettant de réduire les pertes due à la réflexion et d'optimiser les performances du RAR déposé. Le type du RAR utilisé est un RAR à base d'oxynitrure. Ce matériau présente des propriétés mécaniques et optiques intéressantes. Il est déposé sur la surface d'un substrat de silicium par PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapeur Déposition) à basse température. Le meilleur résultat obtenu pour ce type du RAR est la diminution de la réflectivité moyenne pondérée à moins de 7%.Item Etude des spectres de transmittance UV-visible-NIR relevés sur des couches minces, par des modèles théoriques appropriés(Université Oum El Bouaghi, 2014) Touat, Warda; Mahdjoub, AbdelhakimL'objet de cette étude est de modéliser les spectres de transmit tance dans le domaine de l'ultraviolet-visible-proche infrarouge, pour certaines couches minces tels que ZnO, CdS, MgO, MgF2, déposes sur les substrats de verre sur l'un des côtés ou sur les deux côtés. Le modèle est basé sur la propagation d'une onde électromagnétique dans un système optique multicouche. On a utilisé l'approximation des milieux effectifs de BRUGGEMAN et la formulation mathématique de FOROUHI-BLOOMER pour décrire la variation des indices optiques avec la longueur d'onde. Ce modèle théorique nous a permis d'étudier les spectres de transmit tance optique de différents matériaux avec différentes épaisseurs et porosités.Item High Transparency Of Zno(Oum-El-Bouaghi University, 2018) Mahdjoub, Abdelhakim; Benzitouni, Sara; Zaabat, MouradUndoped and heavily indium doped ZnO were deposited by dip-coating sol-gel method on glass substrates. When undoped ZnO was deposited the maximum value of transmittance decreases from 91% for bare substrate to less than 86%. However for ZnO:In coated substrate an unexpected high transmittance of 93.5% was obtained, exceeding that of bare glass substrate. To understand this particular behavior a theoretical model based on the propagation of electromagnetic waves in thin films was adapted to the studied samples and the measured transmittance spectra were perfectly fitted. The optical analysis of the two types of samples showed that the deposited films are dense inside the film while their refractive index decreases for the surface layers. Besides, it was noted that even if the preparation conditions are strictly identical, the heavily doped ZnO films is thicker and less dense then that of undoped ZnO. These results agree with AFM and SEM observations. The particular optical behavior described in this paper could be very beneficial for optical, optoelectronic and solar applications.